3D X線CTスキャン技術

CTはバルクスキャンにどのように役立つか?レゴへの応用

応用事例:レゴ社によるCTによる一括スキャン

これはバルクスキャンの適用事例です。お客様が要求する解像度において、16個のワークピースを一度にスキャン範囲内に配置しました。つまり、1回のスキャンで16個のワークピースをスキャンできるということです。これにより、バルクスキャンが実現するだけでなく、スキャン効率も向上します。スキャン結果は細部が非常に鮮明に保たれており、この手法の有効性を実証しています。

 

複数部分スキャン一括スキャン

  • 寸法測定と工程能力分析

フル解像度 1 部

解像度: 16 µm

測定時間:24分

 

16部品のマルチパートスキャン

解像度: 32 µm

測定時間:1部位あたり2分

 

メッシュの詳細

  • 高解像度の詳細なスキャンデータ

 

グローバルエラーカラーマップの比較

 

GD&T 幾何公差解析 - 円筒度

 

円筒直径と中心軸角度の解析

 

長さ分析

 

断面1:寸法測定分析

 

断面2:寸法測定分析

 

長さ誤差統計 - 工程能力分析

 

角度誤差統計 - 工程能力分析

 

円筒径誤差統計 - 工程能力分析

 

CSV形式でエクスポート可能なデータテーブル

同意します